RAVIIS-300 快速自动微颗粒成像分析扫描透射电镜

发布日期:2025-05-17

一、基本信息

  • 型号:RAVIIS-300
  • 厂家:宁波伯锐锶电子束科技有限公司

 

二、仪器用途

50 kV 全自动扫描透射电镜(STEM),用于纳米微颗粒及超薄切片的大面积高通量自动成像与分析。

 

三、仪器特性

  • 高速 STEM 成像,像素驻留时间 10 ns
  • 直接电子探测器,明场/暗场双通道
  • 大场 / 高分辨成像快速切换
  • 5 样品全自动载入,7×24 小时连续采集
  • 智能聚焦跟踪、光学导航、AI 图像分析

 

四、技术参数

  • 分辨率:1.0 nm @ 50 kV(1 nA)
  • 成像模式:STEM 明场/暗场(BF/DF)
  • STEM 着陆电压:50 kV
  • 电子枪:Schottky 型热场发射
  • 电子束流:50 pA~100 nA
  • 放大倍数:1×~500×(光学);500×~800,000×(STEM)
  • 探测器:半导体直接电子探测器
  • 成像速度:100 M 像素/秒
  • 样品台:X/Y ±4 mm,定位精度 1 µm
  • 样品载入:全自动,5 个样品

 

五、应用范围

  • 蛋白颗粒形态观察与识别
  • 病理组织切片超微结构成像
  • 脑神经连接组学大面积切片成像
  • 细胞、组织超微结构 STEM 成像
  • 全切片高分辨拼接成像